Olympus выпустила новый XRF-анализатор (рентгенофлуоресцентный анализатор) DELTA Element для анализа и сортировки лома, подтверждения марки металла (PMI), контроля качества драгоценных металлов. На сегодняшний день DELTA Element является самым доступным по […]
ПодробнееGE measurement and control представила новый видео бароскоп с 3D измерением и Wi-Fi соединением GE Mentor Visual iQ VideoProbe, предназначенный для визуального (неразрушающего) контроля оборудования, отливок, деталей и т.д. Прибор […]
ПодробнееНа выставке Control 2014 в Штудгарте компания YXLON представила новые системы томографии YXLON FF20 CT и FF35 CT для неразрушающего контроля материалов и измерения. Обычные сканеры компьютерной томографии, представленные на […]
ПодробнееИтальянская компания BOSELLO HIGH TECHNOLOGY S.R.L., работающая с 1962 года в области рентгеновского контроля, является одним из мировых лидеров в области разработки и производства рентгено-телевизионных систем для неразрушающего контроля отливок. […]
Подробнее26 июня 2014 г. компания «Укринтех» проводит семинар-практикум «Современные технологии пробоподготовки и исследования микроструктуры металлов», который состоится в UBI КОНФЕРЕНЦ ХОЛЛ (по адресу: Украина, г. Киев, ул. Н. Василенко, 7). […]
ПодробнееOrigin Technologies Corporation (США) представила свою новую разработку – датчик HS722, который является готовой ручной лазерной системой измерения контура. Эта портативная лазерная система профилирования является самой маленькой из продуктовой линейки […]
ПодробнееKEYENCE CORPORATION выпустила новый цифровой микроскоп VHX-5000, в котором по словам разработчика используются революционные технологии изображения и анализа. Благодаря интеграции новейших достижений в области оптических и цифровых технологий, цифровой микроскоп […]
Подробнее
